基于ATE的电源管理芯片测试系统的开发方法及开发平台

本发明涉及一种基于ATE的电源管理芯片测试系统的开发方法和开发平台，属于芯片技术领域。采用了本发明的开发方法和开发平台，通过建立测试规范；设计测试板卡；调试并优化芯片测试程序；进而对芯片测试系统的一致性和稳定性进行验证。从而保证了利用本发明的方法和平台所开发的芯片测试系统可以有效完成芯片的批量化测试，确保芯片在测试完成后的准确性，精确性，性能完整性和可靠性。由此，本发明提供了一种全面性，系统性的电源管理芯片测试开发架构，满足芯片的ATE自动化测试开发需求，且本开发方法和平台实现了标准化、简明化，便于相关技术人员利用其进行测试系统开发工作，可应用于芯片的多种批量自动化测试中。