一种电子连接器插针的工艺检测方法及系统

本申请提供一种电子连接器插针的工艺检测方法及系统，包括：获取插针斜面图像数据，根据插针表面反射特性和环境光照干扰进行预处理，得到清晰斜面图像；对清晰斜面图像应用边缘检测算法，提取得到包括插针斜面特征的斜面轮廓数据；根据斜面轮廓数据，计算斜面角度偏差，判断斜面角度偏差是否超出预设角度偏差阈值；当斜面角度偏差超出预设角度偏差阈值时，获取插针的插入深度和接触位置数据；将斜面角度偏差与插入深度、接触位置数据进行关联分析，判断斜面角度偏差对插入深度和接触位置的影响，得到关联分析结果；根据关联分析结果调整插针加工工艺参数并重新加工插针。本申请实现插针斜面角度的精确控制，提高插针的插入性能和接触可靠性。