一种基于粒子群优化的EPE胶膜P层厚度均匀性检测方法

本发明公开了一种基于粒子群优化的EPE胶膜P层厚度均匀性检测方法，具体涉及EPE胶膜检测领域，包括搭建光学干涉检测系统，光学干涉检测系统包括激光光源、分光器、干涉探测器和数据采集模块；将EPE胶膜样品放置于光学干涉检测系统的测量区域中，紧接着调整激光光源、分光器的光路参数，通过干涉探测器捕获不同位置的干涉图像，干涉图像包括条纹位移、条纹间距及条纹强度分布，干涉图像用于反映EPE胶膜P层厚度的变化信息。通过光学干涉检测结合粒子群优化算法，建立了胶膜P层厚度分布模型，模型综合条纹位移、条纹间距和条纹强度分布的信息，相对提升了厚度均匀性检测的全面性，从而适用于现实中厚度变化的检测需求。