一种试题自动批改优化方法、设备和存储介质

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一种试题自动批改优化方法、设备和存储介质
申请号:CN202510478766
申请日期:2025-04-16
公开号:CN120410793A
公开日期:2025-08-01
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种试题自动批改优化方法、设备和存储介质,方法包括:获取模板试卷的试题数据,对试题数据进行分类;获取待批改卷面图像,构成待批改卷面图像集合;将待批改卷面图像集合进行分组;对所有待批改卷面图像进行各道试题的定位和分类,并在同一分组中将相同分类的试题进行合并构成一个待批改试题集合;对同一分组中得到的每个待批改试题集合分别调取对应的批改算法或大模型进行统一批改,并将一个待批改试题集合中每道试题的批改结果对应到所属分组内相应的卷面图像。利用本发明可以有效减少智能批改的成本。
技术关键词
卷面 图像 分类规则 试卷 可读存储介质 存储计算机程序 模板 数据 处理器 计算机设备 存储器 坐标 算法 文本
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