一种芯片老化测试分选设备

本发明公开了一种芯片老化测试分选设备，属于芯片测试技术领域，包括：底座，底座内部的两侧面均安装有输送带；多个测试板，测试板上设有多个用于安装芯片的安装槽；顶板，顶板上安装有多个抵紧吸附组件，多个抵紧吸附组件和多个安装槽一一对应，顶板由升降推杆驱动升降，升降推杆安装在固定架上，固定架安装在底座上；其中，输送带带动测试板运动至顶板的下方检测，抵紧吸附组件吸附不合格芯片，并将其放置在底座上，本发明在测试时，可以对芯片施加抵紧力，保证了测试时芯片的稳定，从而可以使测试的结果更加准确。