一种基于Inception块与残差网络的光刻热点检测方法

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一种基于Inception块与残差网络的光刻热点检测方法
申请号:CN202510489345
申请日期:2025-04-18
公开号:CN120471833A
公开日期:2025-08-12
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种基于Inception块与残差网络的光刻热点检测方法。本发明提出了一种数据增强和预处理的办法,先对光刻图形进行处理,通过该步骤有效地扩展了训练数据集,采用数据增强处理方法,将热点图形进行180旋转、镜像、180旋转再镜像的变化,增强模型对热点图形的识别能力。在此基础上,本发明提出了一种采用Inception‑Resnet神经网络结构的深度学习网络解决光刻热点检测问题,该神经网络结合了Inception模块的多尺度特征提取能力和Resnet的残差连接,这使得网络在保持深度的同时,能够有效地解决梯度消失问题,提高了训练的稳定性和模型的学习效率。
技术关键词
光刻热点检测 残差网络 检测光刻热点 深度学习模型 数据 支路 多尺度特征提取 机制 特征提取能力 神经网络结构 深度学习网络 离散余弦变换 镜像 光刻图形 图像 频谱特征 定义 优化器
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