双BIOS的测试方法和测试系统

本申请公开了一种双BIOS的测试方法和测试系统，涉及BIOS故障测试技术领域，包括：通过控制机控制被测试设备的双BIOS模拟目标故障，即BIOS链路短接、BIOS固件故障和SETUP界面卡死中的一个，使得双BIOS由于目标故障启动失败，并获取双BIOS由于目标故障启动失败的日志，根据日志是否符合预期来确定被测试设备是否通过目标故障的故障测试，不需要对双BIOS的分区进行破坏，使得双BIOS故障来实现故障测试，即无需对双BIOS进行损坏即可进行多种故障测试，保证测试后被测试设备的稳定性，解决了现有技术中测试方法对存储设备的双BIOS有损伤的问题。