多光谱辐射测温温度反演方法、设备及存储介质

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多光谱辐射测温温度反演方法、设备及存储介质
申请号:CN202510523082
申请日期:2025-04-24
公开号:CN120427114A
公开日期:2025-08-05
类型:发明专利
摘要
本发明涉及辐射测温技术领域,公开了一种多光谱辐射测温温度反演方法、设备及存储介质,所述方法包括根据多波长高温计的N个光谱通道构建辐射方程组;将指数多项式模型代入辐射方程组,在不同的波长组合下构造方程组,引入共轭梯度最小二乘算法求解得到多组温度预测值;利用自适应核密度估计方法对温度预测值的概率密度分布进行建模,筛选归一化概率密度大于或等于预设阈值的温度值,计算其加权平均值以作为温度预测结果;通过交叉验证进行多次迭代,最终选取预测误差最小的温度值作为最终温度预测结果,以及根据最终温度预测结果反演样品的法向光谱发射率,本发明提供的方法能够在保证计算效率的同时,进一步提升了温度结果的准确性。
技术关键词
温度反演方法 多光谱辐射测温 核密度估计方法 发射率 预测误差 多项式 高温计 多波长 辐射测温技术 指数 数据 算法 处理器 计算机设备 可读存储介质 存储器 通道 强度
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