一种高光谱图像差分插值变化检测方法

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一种高光谱图像差分插值变化检测方法
申请号:CN202510535343
申请日期:2025-04-27
公开号:CN120526302A
公开日期:2025-08-22
类型:发明专利
摘要
本发明涉及图像分析技术领域,具体涉及一种高光谱图像差分插值变化检测方法,包含五个主要模块:信道加权、空间加权、三阶特征重构、特征差分、双三次插值。首先对输入空间片段进行网络运算,重构并提取空间斑块的信道与空间信息,接着以分组级联的形式组建特征差分结构,获取像素级信息的深度差分特征,再使用双三次插值算法,补充整个绝对距离频谱的子像素信息,最后生成基于多空间分辨率差异特征的变化检测图像,计算空谱联合变化信息转换矩阵,获取土地覆盖类型转换方向与面积信息。本发明有效结合了像素级和子像素级的多空间分辨率深层差异特征,提升高光谱图像变化检测的准确性。
技术关键词
变化检测方法 双三次插值 像素 重构模块 空间权重矩阵 斑块 多空间 分辨率 图像分析技术 信道特征 分支 结构模块 残差结构 级联 算法 网络
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