一种基于张量学习的磁共振扩散微结构成像方法

AITNT
正文
推荐专利
一种基于张量学习的磁共振扩散微结构成像方法
申请号:CN202510540557
申请日期:2025-04-27
公开号:CN120580308A
公开日期:2025-09-02
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种基于张量学习的磁共振扩散微结构成像方法,包括:获取扩散磁共振成像的密集采样数据;通过扩散模型进行拟合,生成多个真实微结构参数;基于密集采样数据,生成稀疏采样数据;构建深度神经网络模型,输入稀疏采样数据,输出多个预测微结构参数;分别对真实微结构参数和预测微结构参数进行张量分解,得到包含高阶相关性的真实奇异值张量和预测奇异值张量;构建联合训练函数,训练深度神经网络模型;将真实稀疏采样数据输入训练好的所述深度神经网络模型中。本发明通过上述设置,保留了多参数张量的高维信息并利用张量分解挖掘不同微结构参数的相关性,辅助快速精准微结构成像。
技术关键词
正则化参数 微结构成像方法 深度神经网络模型 扩散磁共振成像 构建深度神经网络 更新网络参数 多参数 训练深度神经网络 空间邻域信息 优化网络参数 数据 傅立叶 组织 算法
系统为您推荐了相关专利信息
1
一种图像深度近邻下采样方法、无监督学习去噪网络模型的获取方法及去噪方法
下采样方法 无监督学习 像素 图像 深度神经网络模型
2
一种基于AI技术的数据处理方法、系统及存储介质
数据处理方法 企业信用评级 联邦学习技术 分布式网络爬虫 深度学习模型
3
基于激光雷达的工业源VOCs分布分析系统
激光雷达 分析系统 智能分析模块 反演算法 数据采集模块
4
肺癌图像识别方法及系统
图像识别方法 像素点 肺癌 图像校正 图像分割
5
基于空间先验的泄漏源迭代重建和不确定性量化方法、系统、设备和介质
不确定性量化方法 正则化参数 观测误差 受体 交叉验证方法
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号