一种光刻工艺中光刻胶角度的调整方法以及碳化硅芯片的制备方法

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一种光刻工艺中光刻胶角度的调整方法以及碳化硅芯片的制备方法
申请号:CN202510557487
申请日期:2025-04-29
公开号:CN120315256A
公开日期:2025-07-15
类型:发明专利
摘要
本发明提供了光刻工艺中光刻胶角度的调整方法以及碳化硅芯片的制备方法,包括采用光刻机对光刻胶连续进行N次曝光,N≥2,获得台阶状的感光区,所述台阶状由上至下分为多段且各段的宽度由上之下依次减少;显影处理,形成台阶状的光刻胶图形;在预设温度下烘烤,使所述光刻胶图形形成带弧状的侧壁,所述预设温度至少为所述光刻胶的玻璃化转变温度。本发明采用对光刻胶连续多次曝光后再显影,结合烘烤工艺实现对光刻胶侧壁角度的大幅度调整,可获得较为倾斜的光刻胶图形侧壁。
技术关键词
光刻胶图形 碳化硅芯片 光刻工艺 碳化硅衬底上生长 掩膜 台阶 刻蚀工艺 光刻机 旋涂工艺 光刻胶层 涂覆 阶梯式 氧化层 氮化硅 尺寸 绝缘 介质
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