建图回环校验方法、电子设备及存储介质

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建图回环校验方法、电子设备及存储介质
申请号:CN202510559020
申请日期:2025-04-29
公开号:CN120369003A
公开日期:2025-07-25
类型:发明专利
摘要
本申请提供一种建图回环校验方法、电子设备及存储介质,该方法响应于检测到当前帧位姿与历史帧位姿形成回环关系,在建图轨迹中获取当前帧位姿与历史帧位姿分别对应的第一轨迹点与第二轨迹点,通过第一轨迹点和第二轨迹点进行轨迹一致性检验,进而在轨迹一致性检验通过的情况下,获取第一轨迹点对应的第一局部语义地图与第二轨迹点对应的第二局部语义地图,进行语义一致性检验,实现对建图过程中回环检测的校验,通过轨迹一致性检验与语义一致性检验提高回环校验精度,解决现有技术中错误校验与校验成本高等问题。
技术关键词
轨迹 语义地图 点云地图 校验方法 建图 匹配误差 路程 电子设备 语义分割模型 可读存储介质 语义标签 节点 计算机 程序 指令 存储器 处理器 关系 数据
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