摘要
本发明提供了一种存储器及其固件优化方法,存储器包括:至少一个闪存控制单元,其上配置至少一个闪存单元;接口闪存单元,用于存储待测试的固件;触发控制单元,用于根据预设测试项目生成对应的测试指令;主控单元,用于根据所述测试指令修改待测试的固件中的数据,并根据所述测试指令与修改数据后的待测试的固件控制所述闪存单元执行对应的操作;所述主控单元还用于识别所述闪存单元在执行操作时的操作信息,并根据所述操作信息对待测试的固件进行优化,以得到优化后的固件;只读存储单元,用于存储所述优化后的固件。通过本发明提供的一种存储器及其固件优化方法,能够对固件进行测试优化。
技术关键词
闪存单元
固件
控制单元
主控单元
坏块信息
逻辑
指令
身份
纠错算法
存储器
校验机制
数据总线
比特数
存储单元
电压
核心
物理
模式
超时机制
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