一种LPCAMM2的性能测试方法及系统

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一种LPCAMM2的性能测试方法及系统
申请号:CN202510594435
申请日期:2025-05-09
公开号:CN120104396B
公开日期:2025-07-04
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种LPCAMM2的性能测试方法及系统,涉及内存测试技术领域,方法包括:获取LPCAMM2的刷新周期;创建测试数据阵列;利用测试数据阵列进行一次测试,生成一次测试故障点;确定每个一次测试故障点的故障扩展范围;获取故障扩展范围内的各个存储单元的索引地址;生成差异化的索引地址注入路径;利用二次测试数据按索引地址注入路径对故障扩展范围进行二次测试,输出二次测试故障点;返回重新生成差异化的索引地址注入路径;输出测试结果。通过故障扩展范围确定和路径规划,有效减少了测试时长,避免了长时间进行满负荷测试可能会对LPCAMM2硬件造成的损伤,同时确保了关键故障的精准检测。
技术关键词
性能测试方法 测试故障 故障存储单元 索引 启发式信息 伪随机编码技术 蚂蚁算法 内存测试技术 伪随机数生成器 内存管理单元 金属线 性能测试系统 阵列 内存控制器 邻域 采样技术 密度 数据
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