一种Micro-LED芯片多工位拉曼检测装置

本发明属于芯片检测技术领域，具体的说是一种Micro‑LED芯片多工位拉曼检测装置，包括底板，底板的顶部固定安装有纳物箱，纳物箱的顶部固定安装有圆板，圆板的顶部固定安装有多个检测腔，圆板的顶部设置有多个置片盒，置片盒用于置放芯片，多个检测腔设置于多个置片盒的正上方且多个检测腔分别能够与多个置片盒的位置相重合；通过当质量平衡块在置片板的底部滑动时，质量平衡块通过两个连杆拉动推片杆在置片板的上方进行移动，从而使质量平衡块下拉带动置片板转动时，质量平衡块带动推片杆在置片板的顶部推动芯片进行向下滑动，可加快芯片在置片板内移动时的速度，同时也可防止芯片置于置片板顶部无法滑落的现象。