重轨缺陷检测方法、程序产品、介质及电子设备

本申请属于计算机及图像信息处理技术领域，具体公开了一种重轨缺陷检测方法、程序产品、介质及电子设备，所述方法包括：获取待检测的重轨图像；将所述重轨图像输入至预先训练的重轨缺陷检测模型中；获取由所述重轨缺陷检测模型输出的所述重轨图像中重轨缺陷对应的缺陷类型，所述缺陷类型至少包括裂纹、掉块、腐蚀和剥离。通过本申请提供的技术方案能提高小样本条件下重轨缺陷检测的准确性。