摘要
本申请公开了一种基于芯粒微系统互连测试方法,属于芯片测试技术领域;其中,分析芯粒微系统结构,确定芯粒微系统互连网络数量,针对互连网络进行分类,主要包括边界扫描芯片互连网络和混合互连网络,基于边界扫描技术自动生成测试向量,通过ATE加载、运行测试向量,设计实装测试系统对混合型互联网络进行测试,若判定混合型互联网络有故障,触发边界扫描测试程序,通过边界扫描测试方法诊断故障类型。通过边界扫描测试结合实装测试技术,在不增加硬件成本的前提下,实装测试和边界扫描测试跨平台融合,实现芯粒微系统互连网络的高覆盖率测试,保证了芯粒微系统的应用质量。
技术关键词
互连测试方法
芯片互连
边界扫描测试程序
支持边界扫描技术
边界扫描测试方法
边界扫描测试系统
生成测试向量
可编程器件
混合型
DC转换器
网络
无故障
自动测试设备
核心板
微系统
边界扫描系统
控制上电时序
系统为您推荐了相关专利信息
失效物理模型
寿命评估方法
芯片结构
材料热膨胀系数
概率密度函数
芯片互连
集成存储芯片
逻辑电路
测试方法
数据传输通路
开关单元
铜框架
三电平功率模块
碳化硅二极管
功率端子