一种基于芯粒微系统互连测试方法

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一种基于芯粒微系统互连测试方法
申请号:CN202510662638
申请日期:2025-05-22
公开号:CN120446730A
公开日期:2025-08-08
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种基于芯粒微系统互连测试方法,属于芯片测试技术领域;其中,分析芯粒微系统结构,确定芯粒微系统互连网络数量,针对互连网络进行分类,主要包括边界扫描芯片互连网络和混合互连网络,基于边界扫描技术自动生成测试向量,通过ATE加载、运行测试向量,设计实装测试系统对混合型互联网络进行测试,若判定混合型互联网络有故障,触发边界扫描测试程序,通过边界扫描测试方法诊断故障类型。通过边界扫描测试结合实装测试技术,在不增加硬件成本的前提下,实装测试和边界扫描测试跨平台融合,实现芯粒微系统互连网络的高覆盖率测试,保证了芯粒微系统的应用质量。
技术关键词
互连测试方法 芯片互连 边界扫描测试程序 支持边界扫描技术 边界扫描测试方法 边界扫描测试系统 生成测试向量 可编程器件 混合型 DC转换器 网络 无故障 自动测试设备 核心板 微系统 边界扫描系统 控制上电时序
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