一种多批次铝氧化银电池破裂膜的可靠性建模及评估方法

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一种多批次铝氧化银电池破裂膜的可靠性建模及评估方法
申请号:CN202510672974
申请日期:2025-05-23
公开号:CN120597499A
公开日期:2025-09-05
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种多批次铝氧化银电池破裂膜的可靠性建模及评估方法,面向铝氧化银电池破裂膜可靠性评估的现实需求,综合考虑破裂膜的开启压力在批次内表现出的双峰分布特点,以及在不同批次间存在的差异,运用混合高斯分布、随机效应模型、Expectation‑Maximization(EM)算法等技术手段,解决多批次破裂膜同时存在批次内和批次间差异的可靠性建模和评估问题。该方法属于可靠性建模及评估技术领域。
技术关键词
铝氧化银电池 EM算法 混合高斯分布模型 参数估计方法 协方差矩阵 压力 变量 效应 样本 元素 误差 定义
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