缺陷图片生成方法、装置、电子设备及存储介质

本申请涉及一种缺陷图片生成方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取工件图像、文本提示信息和掩膜图像，其中，掩膜图像是基于工件图像和掩膜信息生成得到，掩膜信息用于表征待生成缺陷在工件图像上的形状和位置；将工件图像、文本提示信息和掩膜图像输入至预先训练的缺陷图像生成模型中，得到目标缺陷图像，其中，缺陷图像生成模型用于从工件图像和文本提示信息中提取得到第一生成特征，从掩膜图像中提取得到第一形状特征，并基于第一生成特征和第一形状特征，生成目标缺陷图像，目标缺陷图像中所生成缺陷满足掩膜信息对缺陷形状和缺陷位置的约束。这样可以实现对缺陷形状和缺陷位置的精准控制，使得目标缺陷图像符合实际需要。