一种大规模芯片后仿真日志文件智能解析方法及装置、介质

本申请涉及数字集成电路验证技术领域，涉及一种大规模芯片后仿真日志文件智能解析方法及装置、介质。所述方法包括：对后仿真日志文件进行数据清洗；将清洗后的日志文件按时间戳分割为多个子文件块，启动多线程并行处理每个子文件块，统计时序违例类型及数量，提取相关日志并生成时序违例文件；利用机器学习算法对所述时序违例文件进行分类和分析；根据预设规则对时序违例文件进行动态过滤，筛选关键违例信息，并对因信号延迟引起的时序违例进行修复；结合芯片电路结构及信号传输路径，定位时序违例的根源模块或节点，制定优化方案并验证修复效果。本发明实现对大规模芯片后仿真日志文件的高效和精准分析，提高芯片验证的效率和准确性。