一种电缆外半导电层剥离缺陷检测方法、装置、终端设备及存储介质

本发明公开了一种电缆外半导电层剥离缺陷检测方法、装置、终端设备及存储介质，属于电力设备检测领域。方法包括：获取待检测电缆接头若干角度的偏振图像及对应的相机位姿参数；根据偏振图像及相机位姿参数进行斯托克斯参数解算得到斯托克斯矢量图；根据相机位姿参数、斯托克斯矢量图生成的偏振派生参数图及去反光偏振融合图像进行三维形貌重建得到亚毫米级精度点云；根据预设通道注意力机制对亚毫米级精度点云提取的几何特征及去反光偏振融合图像提取的纹理特征进行加权融合得到缺陷类型概率和表面形貌参数；根据缺陷类型概率及表面形貌参数得到剥离缺陷类型及缺陷位置。通过实施本发明，能够解决现有技术存在缺陷检测精确度低的问题。