缺陷检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品

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缺陷检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品
申请号:CN202510713084
申请日期:2025-05-30
公开号:CN120235867B
公开日期:2025-10-03
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种缺陷检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品。该方法包括:获取待测红外图像,对待测红外图像的像素点进行分割,得到属于设备区域的设备像素点和属于背景区域的背景像素点;分别对设备像素点和背景像素点进行标记;基于设备像素点的标记和背景像素点的标记,确定待测红外图像中的设备像素连通区域;识别待测红外图像中的初始缺陷区域,基于设备像素连通区域对初始缺陷区域进行修正,得到修正缺陷区域。采用本方法能够精准定位电力设备的红外缺陷区域。
技术关键词
像素点 缺陷检测方法 标记 图像 待测设备 缺陷检测装置 计算机程序产品 处理器 边缘检测 坐标 计算机设备 电力设备 模块 可读存储介质 存储器 算法 措施
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