基于缺陷检测的数据标注方法、设备及存储介质

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基于缺陷检测的数据标注方法、设备及存储介质
申请号:CN202510714827
申请日期:2025-05-30
公开号:CN120655586A
公开日期:2025-09-16
类型:发明专利
摘要
本申请适用于数据标注技术领域,提供了一种基于缺陷检测的数据标注方法、设备及存储介质,该方法包括:获取待标注图像和初始标注信息,初始标注信息包括检测区域标注信息和缺陷区域标注信息;基于待标注图像和初始标注信息,生成检测区域掩码图像和缺陷区域掩码图像;基于检测区域掩码图像确定若干正样本切图框和对应的位置信息,并基于缺陷区域掩码图像确定若干负样本切图框和对应的位置信息;基于检测区域标注信息、检测区域掩码图像及各正样本切图框的位置信息,确定各正样本切图框的标注信息;基于缺陷区域标注信息、缺陷区域掩码图像及各负样本切图框的位置信息,确定各负样本切图框的标注信息,降低了数据标注成本,提高了数据标注效率。
技术关键词
图框 样本 数据标注方法 图像 顶点 坐标 数据标注技术 处理器 存储器 电子设备 算法
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