基于双TDI相机暗场成像的透明管缺陷检测系统及方法

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基于双TDI相机暗场成像的透明管缺陷检测系统及方法
申请号:CN202510715519
申请日期:2025-05-30
公开号:CN120507287A
公开日期:2025-08-19
类型:发明专利
摘要
本发明属于光学检测技术领域,具体为基于双TDI相机暗场成像的透明管缺陷检测系统及方法。本发明通过设置两个相互独立的TDI相机分别对待测透明石英管内外表面聚焦成像,并结合暗场照明、高频采样与同步控制机构,通过分段采样方式,实现透明管原位旋转过程中表面全覆盖扫描成像;本发明利用TDI多级积分原理,具有高灵敏、高效率、高可靠等优点,可显著提升透明管表面缺陷和体内瑕疵的识别能力和效率。本发明有效解决了透明管内外表面缺陷无损检测中光干扰严重、聚焦难、效率低下等问题,在提高检测系统缺陷测量灵敏度的同时降低因景深控制局限等因素引起的漏检概率;配合现代化人工智能算法与自动化质量控制对缺陷进行分类和测量。
技术关键词
缺陷检测系统 缺陷测量方法 暗场成像 相机 暗场照明 支撑导轮 照明光源 图像处理算法 导轮结构 照明成像系统 滑板 缺陷无损检测 同步控制机构 步进电机 光学检测技术 导轨 数据处理中心 控制系统
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