可控测试程序生成方法、装置、存储介质及电子设备

本申请供一种可控测试程序生成方法、装置、存储介质及电子设备，涉及芯片测试领域。电子设备获取待测处理器支持的指令集；根据指令集中的多种分支指令，生成分支程序片段；其中，分支程序片段包括多条分支指令，每条分支指令前后插入有辅助编码，辅助编码触发预先配置的指令异常处理程序用于在分支指令执行之后，仍能返回按原路径继续执行；生成包括分支程序片段的测试程序。如此，通过插入辅助编码约束分支指令的跳转行为，使得即使在面对大量分支指令形成复杂的嵌套结构和跳转逻辑时，也能使得测试程序沿着既定路径推进，不再受限于复杂的跳转逻辑或不确定的目标地址，从而实现了更高的测试覆盖率和更全面的行为验证。