芯片上下料装置及芯片测试机

本发明提供一种芯片上下料装置及芯片测试机。芯片上下料装置包括安装架、多个料盒、多个升降机构、换盒机构和机械手。安装架沿横向设置有多个料仓。多个料盒能够沿竖向排布于料仓中。多个升降机构分别一一对应设置于多个料仓，升降机构包括升降盘和升降驱动器。换盒机构包括料盒夹放组件及横向驱动件。料盒夹放组件包括料盒手臂、竖向驱动件及纵向驱动件。机械手设置于安装架，用于在料仓的顶部处取放芯片，并使芯片在料盒与检测装置之间转移。芯片测试机包括上述的芯片上下料装置和检测装置。本发明的上下料装置及芯片测试机，可以自动将待测芯片逐一取走进行测试，并自动将测试完成的芯片分类进行摆放，提高了生产效率。