基于数字测试平台的自动化数字IC测试与性能评估方法

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基于数字测试平台的自动化数字IC测试与性能评估方法
申请号:CN202510770884
申请日期:2025-06-10
公开号:CN120669672A
公开日期:2025-09-19
类型:发明专利
摘要
本发明公开了基于数字测试平台的自动化数字IC测试与性能评估方法,涉及IC测试技术领域,该方法的步骤包括:利用数字测试平台对被测车载IC插桩,并模拟车辆真实工况,获取基准性能,连接抛负载模拟器、传感器网络与待测IC;实时采集车载电压、温度、CAN报文负载,识别抛负载状态,并实时监测车辆状态,得到车辆状态值;测量IC执行延迟、功耗、错误率,计算性能状态值;设置复杂度调控算法,根据性能敏感度与车辆状态动态自适应调整算法复杂度步长;拟合趋势面,识别临界复杂度,设置复杂度预测模型输出最优测试复杂度。本发明解决了在车辆IC测试过程中,算法复杂度对变化对IC性能影响较大导致的固定步长或人工调参效率低、风险高的问题。
技术关键词
性能评估方法 复杂度 测试平台 负载模拟器 调控算法 嵌入式传感器 电流检测芯片 电压探头 IC测试技术 支持向量回归模型 强化学习框架 温度传感器 SAC算法 功耗 错误率 车辆测试 网络
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