一种改善凸块与底部结合力的方法、芯片结构

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一种改善凸块与底部结合力的方法、芯片结构
申请号:CN202510779169
申请日期:2025-06-12
公开号:CN120341123B
公开日期:2025-09-19
类型:发明专利
摘要
本发明属于芯片封装技术领域,特别的,属于一种改善凸块与底部结合力的方法、芯片结构。方法:在晶圆的基底上沉积种子层,在种子层上涂覆光刻胶膜,去除多余光刻胶膜,将目的图形投影到光刻胶膜上,显影,去除多余光刻胶膜,在剩余光刻胶膜上形成RDL布线图形层,沉积金属层,去除RDL布线图形层中的光刻胶膜,覆盖绝缘层,制作出布线开口,在布线开口中制作凸块,去除多余绝缘层和种子层;种子层的材质包括Ti、Cu、薄膜,薄膜由纳米复合液固化得到,纳米复合液的原料包括二氧化硅、多巴胺、3‑巯基丙基三乙氧基硅烷、硫酸铜、PVP。芯片结构由方法制备得到。本发明能够提高芯片结构之间的结构结合力,改善凸点不良问题。
技术关键词
光刻胶膜 结合力 芯片结构 丙基三乙氧基硅烷 布线图形层 种子层 复合液 多巴胺 涂覆光刻胶 上沉积 基底 二氧化硅溶液 纳米 芯片封装技术 薄膜
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