摘要
本发明公开了一种高透射光学材料的内透过率测量方法,涉及光学材料性能参数测量领域。本发明综合引入贝叶斯优化与物理信息神经网络算法,实现了对材料透过性能的高精度反演与预测;其中,利用脉冲光腔衰荡技术实现了高时间分辨率测量,确保了对高内透过率材料在极低损耗范围内的精确评估,为超高透过率材料的非破坏性、可追溯测量提供了可行路径;解决了分光光度方法无法准确测量光学材料99.0%/cm及以上内透过率的问题,采用脉冲光腔衰荡技术实现了高透射光学材料高于99.0%/cm内透过率的准确测量,最高测量精度可达到0.0001%/cm。
技术关键词
平面光学元件
光学材料
透过率
测量方法
光腔衰荡技术
损耗
神经网络结构
理论
分光光度方法
神经网络模型
线性关系模型
高精度反演
物理
神经网络算法
平行误差
脉冲激光器
双面抛光
校正
回归方法
系统为您推荐了相关专利信息
钻杆装置
数据采集方法
可变电阻
数据传输模块
导流管
双目视差
测量方法
视场角
标定算法
机器可读存储介质