一种高透射光学材料的内透过率测量方法

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一种高透射光学材料的内透过率测量方法
申请号:CN202510791677
申请日期:2025-06-13
公开号:CN120522140B
公开日期:2025-12-16
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种高透射光学材料的内透过率测量方法,涉及光学材料性能参数测量领域。本发明综合引入贝叶斯优化与物理信息神经网络算法,实现了对材料透过性能的高精度反演与预测;其中,利用脉冲光腔衰荡技术实现了高时间分辨率测量,确保了对高内透过率材料在极低损耗范围内的精确评估,为超高透过率材料的非破坏性、可追溯测量提供了可行路径;解决了分光光度方法无法准确测量光学材料99.0%/cm及以上内透过率的问题,采用脉冲光腔衰荡技术实现了高透射光学材料高于99.0%/cm内透过率的准确测量,最高测量精度可达到0.0001%/cm。
技术关键词
平面光学元件 光学材料 透过率 测量方法 光腔衰荡技术 损耗 神经网络结构 理论 分光光度方法 神经网络模型 线性关系模型 高精度反演 物理 神经网络算法 平行误差 脉冲激光器 双面抛光 校正 回归方法
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