多孔径阵列成像系统标定方法及目标距离测量方法

本发明涉及目标探测方法，具体涉及多孔径阵列成像系统标定方法及目标距离测量方法。为解决现有技术中存在双目测距方法流程复杂，特征点匹配精度要求高、随机误差偏大等不足之处，本发明多孔径阵列成像系统标定方法包括内部参数分离标定和外部参数循环标定，将内部参数和外部参数分离，分别进行标定。同时，基于多孔径阵列成像系统标定方法提供一种目标距离测量方法，结合目标检测模型和子孔径成像原理进行测距，进而计算得到最终目标距离。