光学成像系统点扩散函数测试过程中欠采样的解决方法

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光学成像系统点扩散函数测试过程中欠采样的解决方法
申请号:CN202510814769
申请日期:2025-06-18
公开号:CN120721349A
公开日期:2025-09-30
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种光学成像系统点扩散函数测试过程中欠采样的解决方法,包括以下步骤:获取多幅具有微位移的欠采样星点图像;计算每一幅欠采样星点图像中星点的质心坐标;将多幅点光源弥散斑图像按照质心位置进行配准,生成一幅高分辨率点光源弥散斑重构图像;依据高分辨率点光源弥散斑重构图像拟合点扩散函数。本发明的光学成像系统点扩散函数测试过程中欠采样的解决方法,提出了包含像元重叠率、权重系数和平场系数等因素的全新图像配准模型,提高了配准图像灰度分布的真实性,进而提高了光学成像系统点扩散函数的测试精度,解决了光学成像系统点扩散函数测试过程中欠采样问题。
技术关键词
点扩散函数测试 光学成像系统 点光源 重构 坐标 图像灰度值 微位移 图像配准模型 数据处理模型 暗电流噪声 星点质心 读出噪声 背景噪声 网格 尺寸 关系
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