一种碳化硅器件键合线疲劳状态评估方法、系统、设备、介质和产品

本发明涉及功率器件技术领域，公开了一种碳化硅器件键合线疲劳状态评估方法、系统、设备、介质和产品，本方法通过多个数据源获取目标碳化硅器件在当次开通工作时的电压振荡峰值、芯片结温与开通延时，以及前一次开通工作时的电压振荡峰值、芯片结温与开通延时，确定电压振荡峰值增量、芯片结温温差和开通延时时差，并通过对其标幺化，得到电压振荡峰值增量标幺值、芯片结温温差标幺值和开通延时时差标幺值，通过对电压振荡峰值增量标幺值、芯片结温温差标幺值和开通延时时差标幺值进行加权计算，得到目标碳化硅器件的键合线疲劳指数，利用键合线疲劳指数，确定目标碳化硅器件的键合线疲劳状态，从而实现对器件健康状态的精准评估。