存储芯片测试方法、装置及电子设备

本发明公开了存储芯片测试方法、装置以及电子设备，搭建预设测试环境；在单次测试中，控制目标芯片在预设测试环境下执行垃圾回收策略，解析目标芯片的预设性能数据在垃圾回收策略执行前至执行期间的数据波动情况；替换不同类型的目标芯片或垃圾回收策略，重新执行单次测试，得到不同类型的目标芯片或垃圾回收策略对应的预设性能数据的数据波动情况；比较不同类型的目标芯片执行同一垃圾回收策略时的预设性能数据的数据波动情况或同一目标芯片执行不同类型的垃圾回收策略时的预设性能数据的数据波动情况，作为测试结果。本发明量化不同垃圾回收策略的差异，提供筛选优质厂商与存储产品购置前的验收的决策参考。