大曝光场的光刻技术实现方法及芯片级芯片互连方法

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大曝光场的光刻技术实现方法及芯片级芯片互连方法
申请号:CN202510840429
申请日期:2025-06-20
公开号:CN120802569A
公开日期:2025-10-17
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种大曝光场的光刻技术实现方法、芯片级芯片互连方法以及光刻设备。该大曝光场的光刻技术实现方法应用于光刻设备,光刻设备包括0.1至2.5倍缩小倍率的投影系统,包括:将有图形的待曝光衬底装载至载物台,通过衬底上的对准标记进行对准,偏置设定的偏移距离;执行第一曝光,通过投影系统将掩膜版的预设图形转移至衬底的第一曝光区域;将衬底或掩膜版横向步进M倍原有图形单元的横向尺寸,或纵向步进N倍原有图形单元的纵向尺寸,执行第二曝光,通过投影系统将预设图形转移至衬底的第二曝光区域;连续执行横向步进或纵向步进及第二曝光,直至完成衬底上目标区域的曝光。本方案能够形成大尺寸的曝光场,实现集成电路的高密度互连。
技术关键词
投影系统 光刻设备 芯片互连方法 载物台 对准标记 衬底 光刻技术 半导体芯片 掩膜 高密度互连 半导体结构 集成电路 大尺寸 硅片
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