高精高适应电子产品缺陷的智能检测诊断方法及系统

本发明涉及电力产品的表面、次表面缺陷故障的检测与诊断技术领域，公开了一种高精高适应电子产品缺陷的智能检测诊断方法及系统，该方法包括：获取芯片封装和电气设备的图像数据，并根据所述图像数据建立训练数据集；分别构建适用于芯片封装和电气设备的故障检测模型；利用所述训练数据集对所述故障检测模型进行训练，构建评估指标并计算损失函数，根据评估指标以及损失函数调整所述故障检测模型。通过实施本发明，增强模型鲁棒性和小目标检测能力，有效提升对小目标特征的提取能力。