一种光器件测试方法

本发明公开了一种光器件测试方法，涉及光器件技术领域。本发明根据测试功能设置直流测试板和射频测试板，所述直流测试板设置有直流测试电路，所述射频测试板设置有高频端子、驱动芯片和用于与光器件连接的接口，所述高频端子用于连接测试设备，所述高频端子和接口与驱动芯片电连接，所述射频测试板还设置有直流板接口，所述直流板接口用于与直流测试板可拆卸连接，直流测试板通过直流板接口与射频测试板连接时，直流测试板与射频测试板实现电连接。本发明采用直流测试板和射频测试板可拆卸连接的方式，使不同直流测试板和不同射频测试板可以任意组合来达到降低成本的效果。