一种算子测试方法、设备及存储介质

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一种算子测试方法、设备及存储介质
申请号:CN202510888586
申请日期:2025-06-27
公开号:CN120763060A
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种算子测试方法、设备及存储介质,涉及人工智能芯片技术领域,该方法包括:在人工智能芯片中为算子测试分配目标显存空间,并在目标显存空间中填充脏数据,以模拟人工智能芯片实际运行时显存的残留数据状态;接着,将测试数据拷贝到目标显存空间;然后从目标显存空间读取包含测试数据的输入张量执行待测算子获得输出张量,并将输出张量写出到目标显存空间;从目标显存空间中读取输出张量与参考执行结果进行比对,获得目标测试结果,实现在模拟的芯片真实环境进行算子测试,这样可以强制暴露算子实现中的内存操作缺陷,同时可及时发现显存初始状态对算子功能测试的影响,从而提高算子测试的准确性。
技术关键词
计算机设备 人工智能芯片技术 模拟人工智能 数据 测试方法 计算机程序产品 中央处理器 可读存储介质 元素 存储器 指令 内存
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