一种半导体晶片检测机构以及设备

本发明公开了一种半导体晶片检测机构，包括相邻位置设置的外观检测单元和厚度检测单元，所述外观检测单元包括自动光学检测主体，所述自动光学检测主体上安装有环形光源镜头模块，所述自动光学检测主体的一侧设置有人机交互组件，所述厚度检测单元包括红外光透射测厚仪壳体组件，所述红外光透射测厚仪壳体组件上安装有支撑套筒，所述支撑套筒的内部安装有第二驱动电机。本发明设计外观检测单元和厚度检测单元进行两次检测，可以节省更换设备的时间更利于批量流水线检测，通过设计晶片转运机构，设计多组一体式圆槽板，进而能够极大的减少搬运的时间，同时设计分层导电机构，在满足转动通电的同时，实现单线控制每单个双向电动杆。