一种用于测量系统基准尺标定的视觉校准尺和方法

本申请涉及视觉校准领域，公开了一种用于测量系统基准尺标定的视觉校准尺和方法。本申请中，通过二维码自动解析和姿态验证机制，避免了手工误操作，同时能精确识别校准过程中可能出现的图像畸变。采用的二维码与实际边长关联设计及通用算法，使得校准尺适配性强，可轻松集成到各种机器视觉或工业相机平台机型中。校准过程无需人工干预，能快速完成不同倍率下的校准切换，显著提升标定效率，使用光掩膜工艺，校准尺可以做到纳米级别精度，可以适合芯片行业自动化校准，通过光掩膜工艺制作的校准尺可达到纳米级精度，进一步扩展了应用范围。精确识别校准过程中出现的图像畸变；通用性强，同时轻松适配各种平台机型；可以迅速切换不同倍率校准。