一种多功能半导体芯片智能检测设备

本发明属于芯片检测加工技术领域，具体为一种多功能半导体芯片智能检测设备，包括机身，机身的端面上转动设置有送料盘，送料盘的端面上设置有多个载料底座，多个载料底座的端面上均设置有弹性夹板，多个载料底座的内部均设置有载料导轨，多个载料导轨的两侧均转动设置有芯片引脚进行检测的检测轮，送料盘的一侧设置有固定底座，固定底座的端面上对称设置有两个检测安装块，两个检测安装块的外表面均设置有收拢槽，两个收拢槽的内部均设置有检测结构，芯片检测结构的上方设置有分拣结构，本发明通过设置弹性夹板解决了芯片在运输过程中产生晃动的问题，通过设置凸台和检测轮解决了在检测过程中无法对芯片引脚进行纠正的问题。