组件缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

本申请公开了一种组件缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：构建组件的三维模型；采集所述三维模型的激光超声数据，以及采集所述组件的热成像图像和偏振光图像；基于所述激光超声数据、所述热成像图像和所述偏振光图像，预测得到所述组件的缺陷区域所对应的第一缺陷类别和第一缺陷位置；基于所述缺陷区域的缺陷类别和缺陷位置，重构所述组件的三维缺陷数据；基于所述三维缺陷数据，预测得到所述缺陷区域的扩展方向和扩展范围。