一种基于放射成像系统的标定与校准方法、系统、终端及存储介质

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一种基于放射成像系统的标定与校准方法、系统、终端及存储介质
申请号:CN202510951555
申请日期:2025-07-10
公开号:CN120959778A
公开日期:2025-11-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于放射成像系统的标定与校准方法、系统、终端及存储介质,包括:采集标定体投影数据;对所述标定体投影数据进行标记点检测与预处理;根据预处理后的标定体投影数据进行几何参数解析,得到放射成像系统的几何参数;根据所述几何参数确定所述放射成像系统的几何偏差,并根据所述几何偏差进行动态补偿,输出校准后的几何参数。本发明结合新型标定体、解析算法和动态补偿机制,提升了放射成像系统的精度和鲁棒性,保留了离线校准的高精度、低成本的优势。
技术关键词
放射成像系统 校准方法 X射线源 探测器 参数 偏差 坐标系 数据 轨迹 IMU传感器 关键点特征提取 动态补偿模块 标记点中心 边缘检测算法 可读存储介质
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