一种基于CLIP模型的零样本工业瑕疵检测方法

本申请涉及一种基于CLIP模型的零样本工业瑕疵检测方法。该方法通过构建带有局部特征引导前缀和异常状态条件后缀的优化提示词模板引导CLIP文本编码器聚焦异常区域，生成增强语义的文本描述集合；基于该文本描述集合和工业图像，利用CLIP双编码器分别提取视觉块令牌特征及细粒度文本嵌入特征；通过对文本与视觉特征执行残差映射与加权融合处理；将融合后的视觉特征分割至多子空间进行并行残差映射与门控路由融合，解耦不同模态的异常特征；基于优化后的跨模态特征计算图像级异常概率与像素级热力图。实现在严格零样本条件下对工业产品细微瑕疵的高精度检测与定位，显著提升对局部缺陷的判别鲁棒性，同时维持轻量化部署优势。