一种半导体发光芯片的制作工艺

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一种半导体发光芯片的制作工艺
申请号:CN202510958296
申请日期:2025-07-11
公开号:CN120711896A
公开日期:2025-09-26
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种半导体发光芯片的制作工艺,涉及芯片制作工艺技术领域,包括进行晶圆衬底抛光清洗;用MOCVD设备生长外延结构;通过光刻刻蚀系统形成台面结构,用溅射设备沉积ITO层并退火,并制作电极及钝化层;进行晶圆级和单元芯片级测试;用衬底转移系统进行键合转移;进行晶圆切割和封装。本发明步骤A1采用清洗设备对晶圆衬底进行双面抛光和RCA清洗,彻底去除晶圆衬底表面的机械损伤层、有机污染物及金属离子,通过步骤A2对外延结构的外延质量进行实时监控,保障芯片发光性能的稳定性,通过步骤A3采用光刻刻蚀系统进行深紫外光刻和反应离子刻蚀,同时通过溅射设备使导电率提升,改善电流分布均匀性,降低芯片工作电压与功耗。
技术关键词
半导体发光芯片 等离子体发射光谱仪 散热封装结构 生长外延结构 刻蚀系统 红外温度传感器 溅射设备 晶圆 双面抛光 激光剥离设备 衬底 金属有机化学气相沉积设备 MOCVD设备 光谱椭偏仪 交替结构 台面结构 电导率仪 转速传感器
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