摘要
本发明提供了一种半导体发光芯片的制作工艺,涉及芯片制作工艺技术领域,包括进行晶圆衬底抛光清洗;用MOCVD设备生长外延结构;通过光刻刻蚀系统形成台面结构,用溅射设备沉积ITO层并退火,并制作电极及钝化层;进行晶圆级和单元芯片级测试;用衬底转移系统进行键合转移;进行晶圆切割和封装。本发明步骤A1采用清洗设备对晶圆衬底进行双面抛光和RCA清洗,彻底去除晶圆衬底表面的机械损伤层、有机污染物及金属离子,通过步骤A2对外延结构的外延质量进行实时监控,保障芯片发光性能的稳定性,通过步骤A3采用光刻刻蚀系统进行深紫外光刻和反应离子刻蚀,同时通过溅射设备使导电率提升,改善电流分布均匀性,降低芯片工作电压与功耗。
技术关键词
半导体发光芯片
等离子体发射光谱仪
散热封装结构
生长外延结构
刻蚀系统
红外温度传感器
溅射设备
晶圆
双面抛光
激光剥离设备
衬底
金属有机化学气相沉积设备
MOCVD设备
光谱椭偏仪
交替结构
台面结构
电导率仪
转速传感器
系统为您推荐了相关专利信息
液体储存装置
成分在线检测系统
液体抽取装置
取样机器人
分析检测装置
封装方法
碳纳米管层
高功率脉冲激光
电镀金属层
碳纳米管复合
单面覆铜板
散热封装结构
导电线路
芯片堆叠
线路板
LED芯片
阻挡保护层
半导体层
原子层沉积
电极
电感耦合等离子体发射光谱法
电感耦合等离子体发射光谱仪
背景校正功能
响应面法
氢氟酸