2.5D衬底封装结构和封装方法

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2.5D衬底封装结构和封装方法
申请号:CN202510990631
申请日期:2025-07-18
公开号:CN120511249B
公开日期:2025-09-30
类型:发明专利
摘要
本申请提供的一种2.5D衬底封装结构和封装方法,涉及半导体封装领域。该2.5D衬底封装结构包括中介层、缓冲部、第二电连部和凸块。中介层上设有布线层和与布线层电连接的第一电连部,缓冲部设于第一电连部远离布线层的一侧。第二电连部设于缓冲部远离第一电连部的一侧;第二电连部与第一电连部电性连接。凸块位于第二电连部远离缓冲部的一侧,并电性连接于第二电连部。通过设置缓冲部,能够减小凸块和第一电连部的接触面积,缓减电迁移,以及缓冲部能提高结构支撑性和缓冲性能,可吸收贴装压力避免第一电连部产生裂纹。
技术关键词
封装结构 衬底 缓冲 中介层 封装方法 介质 有机介电材料 多层布线层 凸块 半导体封装 凹槽 芯片 外周面 裂纹 层叠 合金 界面 压力
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