一种LED芯片光学性能测试方法及系统

本发明涉及光度测量技术领域，具体为一种LED芯片光学性能测试方法及系统，包括以下步骤：提取初始电压光强与断层比率，递减电压采样筛选光强稳定区间，提取主频片段比对能量差，获取色温光通拐点时间差，分析时间差趋势归集批次编号，生成性能测试方案。本发明中，通过提取通断初期光强增幅趋势与异常点，构建对初始发光行为的细节识别逻辑，结合递减电压采样捕捉光强稳定区间，提升动态响应判断能力，主频能量变化对比增强电信号连续性筛选精度，色温与光通拐点差值排序支撑批次样本偏移分析，多参数联动构建跨阶段识别路径，实现光学性能在动态异常、频率稳定与响应一致性上的多维评估，有效提升测试准确性与适配性。