一种双共焦显微探测方法及双共焦光学系统

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一种双共焦显微探测方法及双共焦光学系统
申请号:CN202511004291
申请日期:2025-07-21
公开号:CN120870128A
公开日期:2025-10-31
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种双共焦显微探测方法及双共焦光学系统,涉及光学显微探测技术领域。双共焦显微探测方法基于双共焦光学系统进行,双共焦光学系统包括激光共焦模块、高清成像模块,激光共焦模块与高清成像模块同轴设置,双共焦光学系统的显微探测方法包括:利用高清成像模块获取初步图像,确定初步图像的缺陷区域;获取缺陷区域的表面反射率,并判断表面反射率是否大于预设阈值;若是,采用激光共焦模块中的第一针孔单元进行共焦信号采集;若否,采用激光共焦模块中的第二针孔单元进行共焦信号采集;获取缺陷区域的至少一个三维重构图像。本申请的双共焦显微探测方法能够测试表面反射率不同的多种样品,且具有较高的横向分辨率。
技术关键词
成像模块 光学系统 针孔 反射率 后处理模块 高清 光强 激光 重构 焦点 图像拼接算法 探测器 信号 镜头组 对比度 分辨率 色彩
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