一种芯片测试方法及装置

本公开提供了一种芯片测试方法及装置，属于芯片测试技术领域；该方法包括：通过高频时钟信号生成与测试激励信号中输入随路时钟频率相同的中间时钟，其中，高频时钟信号的频率大于输入随路时钟；根据每个被测芯片的时序参数调整中间时钟的相位，生成相位校正随路时钟；基于相位校正随路时钟替换输入随路时钟以更新测试激励信号，以使用更新后的测试激励信号对每个被测芯片进行测试。通过高频信号动态高精度相位调整实现每颗芯片的独立时序补偿，突破传统单一时序参数的局限，实现测试速率与测试数量的灵活兼顾。从部署方面来看，无需修改原有测试系统设计流程和文件格式，兼容性佳，提高了通用性和部署效率，降低了部署成本。