摘要
本发明涉及半导体发光器件制造技术领域,具体为一种倒装LED芯片的制作方法,包括以下步骤:步骤一、在图形化蓝宝石衬底上制作外延层,包括N‑GaN、量子阱、P‑GaN;步骤二、制作MESA蚀刻出N型区域及确定芯片大小和沟道;步骤三、制作ISO将切割道中间部分蚀刻到图形化蓝宝石衬底;步骤四、制作透明导电层;步骤五、制作非金属反射层;步骤六、制作金属导电反射层;步骤七、制作非金属钝化层一;步骤八、制作金属串联电极一;步骤九、制作非金属钝化层二;步骤十、制作金属电极二。通过优化ICP工艺参数,将传统的DBR‑ICP刻蚀和SiO2湿法腐蚀两步工艺整合为一步干法刻蚀,简化了工艺流程。
技术关键词
倒装LED芯片
图形化蓝宝石衬底
导电反射层
蚀刻速率控制
制作金属电极
制作外延层
透明导电层
非金属
终点检测系统
半导体发光器件
功率
参数
元素
气体
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