一种OLED显示面板中Mura缺陷智能检测方法及系统

本发明提供一种OLED显示面板中Mura缺陷智能检测方法及系统，涉及缺陷检测领域，所述方法流程为：基于OLED显示面板的原始图像获取多尺度的特征图像和融合特征图像；对多尺度的特征图像和融合特征图像进行特征增强和特征融合，以得到初始预测图像和编码特征图像；对初始预测图像和编码特征图像进行边缘细化和图像分割，以得到精细预测图像；采用混合损失函数进行端到端的多目标优化训练，以全面优化网络性能。本发明采用三模块融合解码器架构和混合损失函数相结合的方式进行特征增强以及网络优化，使得网络模型能够准确检测出Mura缺陷，防止出现漏检和错检的问题。